Senior Softwareentwickler im Bereich Messtechnik und Automatisierung (C#, C++, VB)

6/2015 – 9/2015

Entwicklung einer Prüfstands-Steuerung mit folgenden Features:
- Steuerung der kompletten Hardware
- Projekt-basierte Definition und Speicherung (XML) von allen Prüfparametern, Strip-/Field-/Nadel-Layout, Prüfabläufen
- Kontaktsuche / Kontaktreinigung
- Manuelle Handler-Steuerung
- Messwerterfassung + Anzeige + Speicherung
Entwicklungsumgebung & Kommunikation & Datenhaltung
- Microsoft Visual Studio 2013 (.Net / C#)
- Kommunikation via GPIB + RS232
- XML
Hardware:
- Strip Handler SO3000 (Rasco Jaguar)
- Keithley DMM/Switch K2700
- Stromquelle IBox

Software engineering / -technik

12/2002 – 10/2014

Von 12/2002 bis 10/2014 war ich als angestellter Projektingenieur in einer mittelständischen Firma tätig. Siehe dazu auch meinen Lebenslauf.

Schwerpunkte meiner Tätigkeit
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- Entwicklung von Mess-, Prüf- und Automatisierungs-Systemen
- Projektleitung bis Teamgröße 3 im o.g. Fachgebiet
- Akquise und Kalkulation von Projekten sowie Erstellung von Pflichten- und Lastenheften (ca. 15% Anteil)


Branchen
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- Semiconductor
- Ausrüster Semiconductor-Branche
- Zulieferer Aerospace
- Zulieferer Automotive
- Maschinenbau


Projekte (Auszug)
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2014 / Aerospace / 4 Mannmonate
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Entwicklung einer übergeordneten Ofen-Steuerung in der Fertigung von hochbelastbaren Leichtbau-Komponenten (Kohlefaser + Harz) für die Luftfahrt.
Tools / Techniken / Datenbanken:
- Microsoft Visual Studio 2013 (.Net / C# / Developer Express Komponenten)
- OPC-Kommunikation
- Oracle (Auftrags-DB des Werkes), MS SQL LocalDB


2012 – 2013 / Semiconductor/Automotive (Zulieferer) / in Summe ca. 6 Mannmonate
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Entwicklung eines Testsystems für die elektrische Endprüfung von Drucksensoren.
Tools / Geräte:
- Microsoft Visual Studio 2013 (.Net / C# / Developer Express Komponenten)
- Atmel AVR Studio (für µC-Firmware ATMEGA 1280 / für Relaistreiber-Entwicklung)
- Keithley SourceMeter 2611B
- Keithley Nanovoltmeter 2182A


2007 – 2014 / Feinwerktechnik / Summe ca. 7 Mannmonate
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Entwicklung eines Nadelkarten-Testsystems für den Bereich Forschung & Entwicklung.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 6.0 (für Tester-Software)
- AVR Studio (µC-Firmware ATMEGA 2560 / für Matrix)
- Waferprober TSK UF3000
- Keithley SourceMeter 2601
- 500-kanalige Matrix (Eigenentwicklung)


2004 – 2014 / Semiconductor / Summe ca. 8 Mannmonate
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Konzeption, Simulation und Realisierung der Druckluftsteuerung eines Halbleiterwerkes.
Dies ist das wohl heikelste Projekt meiner Laufbahn, da hier für eine komplette FAB im laufenden Betrieb für 2 Kompressorstationen eine übergeordnete Steuerung implementiert wurde. Die SPS-Programmierung erfolgte durch einen externen Entwickler. Dieses Projekt wird in 2015 weitergeführt.
Tools / Geräte:
- Simulationsprogramm unter Borland C++ Builder 6.0
- Datenaufzeichnung und Auswertung via OPC Data Logger (Eigenentwicklung / VS .NET C#)
- in Summe 13 Kompressoren (Boge + Atlas Copco)


2001 – 2014 / Semiconductor / Summe ca. 14 Mannmonate
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Entwicklung einer Entwicklungsumgebung (IDE) für Testprogramme zum Test von LEDs.
Tools / Techniken:
- Microsoft Visual Studio 6.0 / Visual Basic
- Microsoft Visual Studio .NET / C# (für Machbarkeitsstudien und Portierungsanalysen)
- XML (für Kommunikation und Projektdaten)
- DHTML + WebBrowser Control (für Generierung der GUI)


2000 – 2011 / Semiconductor / Summe ca. 5-6 Mannmonate
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Entwicklung eines Testsystems für Prüfung und Charakterisierung von SAW-Filtern (Akustische Oberflächenwellen-Filter) auf Wafer-Level.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 3.0 / 5.0 / 6.0
- Waferprober Suss PA 200
- Diverse Netzwerkanalysatoren:
- Rohde&Schwarz ZVR
- Advantest
- Agilent E5071 + E8363


2005 – 2014 / Aerospace / Summe ca. 8-9 Mannmonate
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Weiterentwicklung und Wartung von 2 übergeordneten Pressen-Steuerungen in der Fertigung von Leichtbauplatten für die Luftfahrt.
Tools / Datenbanken / Geräte:
- Borland C++ Builder 3.0 / 5.0 / 6.0
- Kommunikation mit den SPS-Steuerungen (S7) der Pressen via OPC
- Kommunikation mit der Messdatenerfassung (Eurotherm 5000B) via Modbus
- Datenbanken: Oracle (Auftrags-DB des Werkes), Borland + MS Access (lokale DB


2010 / Semiconductor / Summe 2,5 Mannmonate
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Entwicklung eines Langzeitmessplatzes zur Charakterisierung von Isolationsstrukturen unter thermischem und elektrischem Stress (TDDB-Tests).
Tools / Geräte:
- Microsoft Visual Studio 2008 (C# / Developer Express Komponenten)
- Kommunikation mit den Hochspannungsquellen via OPC
- Agilent LCR-Meter E4980
- Meilhaus Switching ME 630
- ISEG-Hochspannungsquellen (64 Kanäle / 1000V)


2005 – 2014 / Semiconductor/Automotive (Zulieferer) / Summe ca. 4-5 Mannmonate
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Weiterentwicklung eines Testsystems für die Prüfung von Drucksensoren.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 3.0 / 5.0 / 6.0
- Kommunikation mit dem Tester via RS232
- Datenbanken: Fab-DB via DLL-Interface
- Suss Waferprober PA200
- Thermochuck-Controller
- Thermostreamer Thermonics T2610
- Barcodereader Cognex InSight 1700


2008 - 2009 / Fluid Control Systems / Summe 7 Mannmonate
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Entwicklung eines generischen Konfigurations- und Bedientools für eine Gerätefamilie der Mess-, Stell- und Dosiertechnik (Multifunktionsregler) im Bereich Fluide.
- Microsoft Visual Studio 2008 (.Net / C# / Developer Express Komponenten)
- XML als Gerätebeschreibungs-Werkzeug und Speicherformat.
- Kommunikation mit den Geräten via: USB, Modem und LAN


2008 / Semiconductor / Summe ca. 4 Mannmonate
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Weiterentwicklung eines Elektromigrations-Testsystems für die Langzeitmessung von Halbleiterstrukturen (Leiterbahnen) unter elektrischem und thermischem Stress.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 6.0
- 6 Keithley SourceMeter 2602
- 4 Keithley Switching 3706
- 3 Heizkammern Nabertherm


2006 – 2009 / Semiconductor / Summe ca. 2 Mannmonate
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Entwicklung eines Testsystems für die elektrische Charakterisierung von Avalanche-Photodioden auf Wafer-Level.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 6.0
- Waferprober Suss PA200
- 2x SourceMeter Keithley 2612
- IO-Karte Keithley KPCI 3132


2004 – 2012 / Semiconductor / Summe ca. 3,5 Mannmonate
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Entwicklung eines schnellen Testsystems für die elektrische und photometrische Charakterisierung von LEDs auf Wafer-Level. Für die Verwendung in diesem und Folgeprojekten wurde eine photometrische C++-Bibliothek für die Auswertung von Spektraldaten entwickelt.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 6.0
- Waferprober Suss PA200 BlueRay
- SourceMeter Keithley 2400 / 2600
- Spektrometer Ocean Optics HR2000


2004 - 2007 / Semiconductor / Summe 4 Mannmonate
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Entwicklung einer Pattern-Generator-Software und -Hardware zur Generierung digitaler TTL-Pattern bis 2MHz auf bis zu 512 Kanälen.
Tools / Geräte:
- Borland C++ Builder 6.0
- Digital-IO-Karten MI.7021 von Spectrum


2005 - 2006 / Semiconductor / Summe 2 Mannmonate
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Redesign der MS SQL-Datenbank, der Daten-Zugriffs-Bibliothek (C++) und der Datenauswertung eines Testsystems für Halbleiter.
Tools / Datenbank:
- Borland C++ Builder 6.0
- Microsoft SQL Server 2005


2004 – 2006 / Semiconductor / Summe 4 Mannmonate
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Entwicklung eines ESD-Testsystems (TLP-Tests = Transmission Line Pulse) für die elektrische Charakterisierung von Halbleiterstrukturen.
Geräte:
- Waferprober Suss PA200 / PA300
- Pulsgeneratoren:
- Agilent 8114A
- Oryx Celestron
- FHG ATIS TLP04-1000
- Oszilloskope
- LeCroy Waverunner LTxxx Series
- LeCroy XStream DSO Series
- Agilent Infiniium 54830 Series
- Tektronix TDS7xxx Series
- SourceMeter Keithley 2400


2004 – 2005 / Sondermaschinenbau / Summe 3,5 Mannmonate
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SPS-Programmierung eines Montageautomaten für Stecker/Steckhülsen. Für die Anlagenvisualisierung auf der PC-Seite wurde eine Visual Basic-Applikation entwickelt. Ab 2005 Support und Wartung.
Tools:
- Beckhoff SPS mit TwinCAT / Sprache ST (Strukturierter Text)
- Visual Studio 6.0 / Visual Basic (Visualisierung)


... und viele weitere Projekte

Softwareentwicklung (allg.)

12/2001 – 11/2002

Entwicklung eines Testsystems für Prüfung und Charakterisierung von SAW-Filtern auf Wafer-Level.
Hardware: Waferprober Suss PA200, diverse Netzwerkanalysatoren (Rohde&Schwarz ZVR, Advantest, Agilent E5071)
Entwicklungsumgebung: Borland C++ Builder

Softwareentwicklung (allg.)

1/2000 – 2/2000

Entwicklung und Programmierung einer Pressenüberwachung
Hardware: Siemens SPS S7 200
Entwicklungsumgebung: STEP 7 Micro/WIN

Softwareentwicklung (allg.)

10/1999 – 11/1999

Entwicklung eines Messprogrammes für Infrarot-LED auf Wafer-Level
Hardware: Waferprober Suss PA200 + Agilent HP 4142
Entwicklungsumgebung: HP VEE

Softwareentwicklung (allg.)

6/1999 – 7/1999

Entwicklung eines Schnittstellen-Programms für einen Höhensensor.
Hardware: Waferprober Suss PA200 + Laser-Entfernungs-Sensor
Entwicklungsumgebung: Borland C++ Builder

Softwareentwicklung (allg.)

4/1999 – 6/1999

Entwicklung eines Messprogrammes für Feuchtigkeitssensoren auf Wafer-Level.
Hardware: Waferprober Suss PA200 + Agilent HP 4284
Entwicklungsumgebung: Borland C++ Builder

Messtechnik, Regelungstechnik / Steuerungstechnik

8/1998 – 9/1998

Weiterentwicklung eines Testsystem für die schnelle Erfassung von Sensordaten an Produktionsanlagen.
Entwicklungsumgebung: Keithley TestPoint
Hardware: Adwin-System

Softwareentwicklung (allg.)